光損耗是度量光纖接頭質(zhì)量的重要指標(biāo)，使用光時域反射儀(OTDR)或熔接接頭的損耗評估方案等測量方法可以確定光纖接頭的光損耗。

　　(1)使用光時域反射儀(OTDR)

　　光時城反射儀，又稱背向散射儀，其原理是: 在光纖中傳輸光脈沖時，由于散射、反射的激量光返回光源側(cè)后，可以利用時基來觀察返回光。由于光纖的模場氏徑影響它的后向散射，因此在接頭兩邊的光纖可能會產(chǎn)生不同的后向散射，從而遮蔽接頭的真實損耗。如果從兩個方向測量接頭的損耗，并求出這兩個結(jié)果的平均值，便可消除單向OTDR測量的人為因素誤差。然而，多數(shù)情況是操作人員僅從一個方向測量接頭損耗，其結(jié)果并不十分準(zhǔn)確，事實上，由于具有失配模場直徑的光纖引起的損耗，其結(jié)果并不十分準(zhǔn)確，事實上，由于具有失配模場直徑的光纖引起的損耗可能比內(nèi)在接頭損耗自身大10倍。

　　(2)熔接接頭損耗評估

　　某些熔接機使用一種光纖成像和測量幾何參數(shù)的斷面排列系統(tǒng)，通過從兩個垂直方向觀察光纖，計算機處理井分析該圖像半確定包層的偏移、纖芯的畸變、光纖外徑的變化其他關(guān)鍵參數(shù)，使用這些參數(shù)來評價接頭的損耗。依賴于接頭和它的損耗評估算法求得的接續(xù)損耗可能和真實的接續(xù)損耗有相當(dāng)大的差異。

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