1、光特性測(cè)試

　　光特性測(cè)試主要是對(duì)光纖傳輸光性能的測(cè)試。光特性測(cè)試一般包括中繼段衰減測(cè)試、光纖后向散射曲線測(cè)試、光纖接續(xù)點(diǎn)的連接衰減測(cè)試和多模光纖的傳輸帶寬測(cè)試。由于目前采用的光纖主要為單模光纖，所以光特性測(cè)試以前3項(xiàng)為主。

　　(1)中繼段衰減測(cè)試

　　光纜線路中繼段衰減一般由光纖的本征衰減、光纖接續(xù)點(diǎn)的連接衰減和光纜的彎曲衰減組成。

　　中繼段衰減測(cè)試的主要方法有剪斷法、插入法和后向法3種，其測(cè)試方法與步驟同單盤(pán)衰減測(cè)試。

　　(2)光針后向散射曲線測(cè)試

　　中繼段光纜后向散射曲線的測(cè)試方法與步驟和單盤(pán)光纜的后向曲線測(cè)試方法相同，但曲線的分析方法有所不同。中繼段光纜后向散射曲線的分析方法如下。

　　·觀察曲線的全部(全程)有無(wú)異常。當(dāng)發(fā)現(xiàn)可疑點(diǎn)時(shí)，應(yīng)將可疑點(diǎn)及周?chē)鷧^(qū)域放大觀察.以便于正確判斷。

　　·根據(jù)光纖接續(xù)情況，抽查核實(shí)接續(xù)點(diǎn)的連接衰減和接續(xù)點(diǎn)的距離。

　　·測(cè)量光纖的線路衰減、長(zhǎng)度和部分反射點(diǎn)的反射損耗(或測(cè)量回波損耗)。

　　·按沒(méi)計(jì)文件要求，記錄(或打印)測(cè)試曲線。檢測(cè)結(jié)果應(yīng)將測(cè)試數(shù)據(jù)、測(cè)試條件記入竣工測(cè)試記錄的《中繼段光纖后向散射曲線檢測(cè)記錄》中。

　　·中繼段光纖后向散射曲線，一般要求記錄一個(gè)方向上的完整曲線(A-B或B-A)，以便于今后維護(hù)測(cè)量時(shí)與之對(duì)比。有條件(或設(shè)計(jì)文件有要求)時(shí)，可記錄兩個(gè)方向的測(cè)試曲線(A-B和B-A)。

　　(3)光纖連接衰減測(cè)試

　　光纖連接衰減測(cè)試是對(duì)光纖接續(xù)工件的檢驗(yàn)，是竣L技術(shù)文件的重要組成部分，也是光纖鏈路整體衰減的組成部分，對(duì)光纖鏈路的光特性傳輸有重要影響。光纖連接衰減的測(cè)量一般采用“四點(diǎn)法”，具體測(cè)試方法與步驟如下(以HP8147為例)。

　　·打開(kāi)一條已測(cè)(或現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量)后向散射曲線。

　　·將游標(biāo)C移動(dòng)到所要測(cè)量的連接點(diǎn)。

　　·按軟功能鍵“分析”菜單，選擇“插入損耗”項(xiàng)，此時(shí)屏幕上游標(biāo)C兩側(cè)出現(xiàn)4個(gè)圓點(diǎn)(分居游標(biāo)C的兩側(cè))。

　　·利用“改動(dòng)”旋鈕順次激活4個(gè)點(diǎn)，并按規(guī)定放置在相應(yīng)點(diǎn)上。

　　·在屏幕下方的游標(biāo)信息的“C點(diǎn)的插損”處，可直接讀取的數(shù)據(jù)即為該點(diǎn)的連接衰減(儀表參數(shù)叫插入損耗或叫插損)。

　　操作方法與步驟隨所用儀表的不同而有所不同。實(shí)際測(cè)試時(shí)應(yīng)根據(jù)所用儀表的要求，靈活運(yùn)用，以獲取最準(zhǔn)確的測(cè)試結(jié)果為目的。

　　2、電特性測(cè)試

　　中繼段電特性測(cè)試方法與測(cè)試項(xiàng)目基本同單盤(pán)光纜電特性測(cè)試，只是測(cè)試距離較長(zhǎng)。電特性測(cè)試指標(biāo)應(yīng)達(dá)到設(shè)汁要求，或符合相關(guān)的國(guó)標(biāo)文件。測(cè)試合格后應(yīng)及時(shí)做好記錄，并填如相關(guān)的竣工測(cè)試之中。

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